更新時(shí)間:2024-10-09
TM-213迷你型紫外照度計(jì)規(guī)格參數(shù)描述 專業(yè),高質(zhì)量的紫外線儀器。 紫外線照射測量含UV 紫外線偵測器光譜從290 nm to 390 nm. 測量范圍:3999微瓦/平方公分和39.99瓦/平方公分
迷你型紫外照度計(jì)規(guī)格參數(shù)描述
專業(yè),高質(zhì)量的紫外線儀器。
紫外線照射測量含UV
紫外線偵測器光譜從290 nm to 390 nm.
測量范圍:3999微瓦/平方公分和39.99瓦/平方公分
建立零按鈕。
微處理器電路提供高可靠性和耐久性
獨(dú)立紫外線偵測允許用戶測量紫外線光在一個(gè)的位置
液晶顯示,容易讀數(shù)
過載顯示的OL
預(yù)設(shè)自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間為約15分鐘
測量:有1uW/cm2, 1mW/cm2可供選擇
專業(yè),高品質(zhì)的紫外線儀器
紫外線照射測量含UV
測量范圍:0~3999uW/cm2,0~39.99mW/cm2
感應(yīng)器波長:290-390nm,中心波長:365 nm
分辨率1uW/cm2,0.01mW/cm2
讀值鎖定,背光顯示,定位轉(zhuǎn)換,歸零功能
量程指示:顯示“OL”
迷你型紫外照度計(jì)低電壓顯示
應(yīng)用廣泛。
TM-213 UVAB紫外線強(qiáng)度計(jì)規(guī)格:
型號TM-213
顯示3-3/4位4000大讀值,背光功能
測量范圍0~3999uW/cm2,0~39.99mW/cm2
解析度1uW/cm2,0.01mW/cm2
準(zhǔn)確度±(4%FS + 2dgt)
波長范圍290-390nm
中心波長365 nm
采樣時(shí)間3次/ 每秒
感應(yīng)器UV光二體及UV濾光片
量程指示顯示“OL”
EMC儀器的設(shè)計(jì)符合EMC標(biāo)準(zhǔn),而且依照EN61326(1997)+A1(1998)+A2(2001)執(zhí)行相容性測試。
操作溫度/濕度5~40度,80%R.H以下。
儲(chǔ)存溫度/濕度-10~60度,70%R.H以下。
電源2節(jié)1.5V AAA電池
電池壽命約50小時(shí)
重量約 90克
尺寸133(長)mm × 48(寬)mm × 23(高)mm
附件使用說明書,皮套,1.5V電池*2節(jié)
產(chǎn)品名稱:母合金精密電阻率測試儀 產(chǎn)品型號:RTY-WSP-21 |
母合金精密電阻率測試儀型號:RTY-WSP-21
硅料分選檢驗(yàn)綜合儀是一款為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗(yàn)、檢測而設(shè)計(jì)的。它可以快速準(zhǔn)確測量硅料的電阻率??梢詸z測所有類型的硅料:母合金摻雜濟(jì)電阻率檢測可以精確到0.0001-199.99Ω﹡㎝,及各種碎片料、米粒料、片料,塊料,頭尾料、堝底料、邊皮料等等。
產(chǎn)品特點(diǎn):
■電阻率測量:大屏幕清晰顯示硅料電阻率值,方便檢料工快速分選
■ 電流測量:本儀器采用良好芯片技術(shù),可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度,儀器可直接鎖定電流,使測量使用更加簡便準(zhǔn)確,本儀器可根據(jù)需要配備測試平臺(tái), 利用測試平臺(tái)可以測試薄片電阻率
■ 四探針:一次測量,顯示完整電阻率值。
■ 采用了*的恒流源技術(shù),能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求
推薦工作條件
■ 溫度:23±2℃
■ 濕度:60%~70%
■ 無強(qiáng)磁場、不與高頻設(shè)備鄰近
技術(shù)指標(biāo):
■ 高阻電阻率量程:0.01~199.99Ω﹡㎝ 低阻電阻率量程:0.0001~1.9999Ω﹡㎝
■ 高阻測量精度:精確到十分位(即精確到小數(shù)點(diǎn)后一位)
低阻測量精度:精確到千分位(即精確到小數(shù)點(diǎn)后四位)
注:低阻一般用于測量低于0.1 0Ω﹡㎝以下硅料,如母合金,高于0.1 0Ω﹡㎝一般用高阻測量。
使用方法:
接好電源線,將儀器接上220V交流電,供電,若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險(xiǎn)絲,規(guī)格為1A,或檢查電源線是否插好。
電阻率測量:
低阻測試:
1,面板高阻低阻切換撥動(dòng)開關(guān)指向低阻方向,通過按動(dòng)面板綠色按鈕,使面板數(shù)顯表小數(shù)點(diǎn)調(diào)到0.0000狀態(tài),測量時(shí)顯示為電阻率值,
2,校厚:四探針針頭壓住待測樣片,根據(jù)所測硅料厚度調(diào)動(dòng)按鈕至所要求厚度,
按鍵調(diào)動(dòng)開關(guān)調(diào)動(dòng)硅材料厚度,硅材料厚度小于3.98mm按實(shí)際厚度對照厚度調(diào)節(jié)按鈕調(diào)節(jié),如2.18就調(diào)到218,厚度大于3.98的都調(diào)到3。98,厚度調(diào)好后直接測試即可
高阻測試:
1,面板撥動(dòng)開關(guān)指向高阻方向,面板數(shù)顯表小數(shù)點(diǎn)調(diào)到000。00狀態(tài),不需按動(dòng)綠色按鈕。
2,校準(zhǔn)設(shè)備:所測硅材料厚度小于3.98mm的對照國家標(biāo)準(zhǔn)電阻率電流修正系數(shù)表來調(diào)動(dòng)儀器上方電流表,根據(jù)厚度所對應(yīng)的電流系數(shù)來調(diào)節(jié)電流表,厚度大于3.98mm的電流統(tǒng)一調(diào)到0.6283即可。
測試四探針筆維護(hù):
1一般情況下,更換鋼針之類,不需要拆開探頭,只需要用拔出要更換的鋼針,再重新安裝新針,如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出,必須按照以下步驟進(jìn)行操作:
A先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲,輕輕脫下尾部航空插口,保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時(shí)同步旋轉(zhuǎn),防止扭線斷線,短接,
B輕輕擰開探針頭子,然后小心將銅片拉出,記住七片緣片與銅片之間的位置,(四片銅片每片見夾一片緣片,兩邊的銅片外側(cè)各兩片),將斷針從銅片卡口座里取下即可,
C特別注意一定不能將銅片取下時(shí)的位置錯(cuò)亂,銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列,并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列,以免短接。
D安裝時(shí)銅片及緣片按照拆下時(shí)的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子,并先將探針頭子擰緊,再將尾部航空頭插上,并且旋緊小螺絲,
E將針裝好,注意針頭針尾方向,尖頭為探針頭部
注意事項(xiàng):
1儀器操作前請您仔細(xì)閱讀使用說明書,規(guī)范操作。
2輕拿輕放,避免儀器震動(dòng),水平放置,垂直測量,
3儀器不使用時(shí)請切斷電源,連接線無需經(jīng)常拔下,避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象,
4探針筆測試結(jié)束,套好護(hù)套,避免人為斷針,